搜索
发布采购
更新日期：2024-04-01
SN74LVTH182512DGG 供应商
- 公司
- 型号
- 品牌
- 封装/批号
- 数量
- 地区
- 日期
- 说明
- 询价
-
TI
-
原厂原装
22+ -
3288
-
上海市
-
-
-
一级代理原装
-
TI(德州仪器)
-
TSSOP-64
2022+ -
12000
-
上海市
-
-
-
原装可开发票
-
TI
-
TSSOP
03+ -
1900
-
上海市
-
-
-
原装现货，品质为先，请来电垂询！
-
TI
-
TSSOP
23+ -
46000
-
合肥
-
-
-
科大讯飞战略投资企业，提供一站式配套服务
SN74LVTH182512DGG 中文资料属性参数
- 传输延迟测试条件：50pF
- 安装类型：表面贴装
- 宽度：6.1mm
- 封装类型：TSSOP
- 尺寸：17 x 6.1 x 1.15mm
- 引脚数目：64
- 数据流方向：双向
- 最低工作温度：-40°C
- 最大低电平输出电流：64mA
- 最大工作电源电压：3.6 V
- 最大高电平输出电流：-32mA
- 最小工作电源电压：2.7 V
- 最长传播延迟时间@最长CL：7.7 ns @ 2.7 V
- 最高工作温度：+85°C
- 极性：非反相
- 每片芯片元件数目：2
- 每片芯片通道数目：18
- 输入电平：LVTTL
- 输出电平：LVTTL
- 逻辑功能：扫描测试设备，带通用总线收发器
- 逻辑系列：LVT
- 长度：17mm
- 高度：1.15mm
SN74LVTH182512DGG 数据手册
| 数据手册 | 说明 | 数量 | 操作 |
|---|---|---|---|
 SN74LVTH182512DGGR
|
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS |
36 Pages页,563K | 查看 |
|
SN74LVTH182512DGGR
|
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP |
38页,736K | 查看 |