
测试探头尖
更新时间: 2024-12-13 00:00:03测试探头尖简介
测试探头尖用于连接测试设备和被测电路/芯片/设计。此类器件通常由圆柱杆组成,头部为凹头、凸头、冠头、夹头、尖头或插片头,或钩形端头,另一端通常为电线引线。产品特征包括尖头类型、连接类型、尖头长度、总长度、额定电压电缆等级(CAT I、CAT II、CAT III、CAT IV、IEC)。
测试探头尖热门型号更多
器件图 | 型号 | 制造商 | 封装 | 描述 | |
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30 RED | - |
PROBE PIN TIP RED |
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31 BLK | - |
PROBE PIN TIP W/BANANA JACK BLK |
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31 RED | - |
PROBE PIN TIP W/BANANA JACK RED |
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34 BLK | - |
PROBE NEEDLE TIP BLACK |
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34 RED | - |
PROBE NEEDLE TIP RED |
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35 BLK | - |
PROBE NEEDLE TIP W/B-JACK BLK |
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35 RED | - |
PROBE NEEDLE TIP W/B-JACK RED |
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441589 | TPI (Test Products Int) |
REPLACEMENT TIP FOR SP100B |
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441589S | TPI (Test Products Int) |
THREADED REPLACEMENT TIP SP100B |
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30 BLK | - |
PROBE PIN TIP BLACK |