针头探针

针头探针是一种精密的测试工具，主要用于电子和半导体行业的测试与测量应用。它们通常由一个细长的金属针尖和一个支持结构组成，设计用于接触电路板上的小尺寸焊点、连接器或其他电子元件，以进行电气测试或信号传输。
功能特点：
1. 精密接触：针头探针具有极小的直径和尖端，能够精确地接触微小的电子部件。
2. 高密度排列：在一些测试设备中，针头探针可以以高密度排列，以适应复杂的电路板布局。
3. 可重复性：探针可以承受多次插入和拔出，保持良好的接触性能。
4. 弹性和耐用性：针头探针具有一定的弹性，能够在接触时吸收应力，延长使用寿命。
5. 材质：通常采用高强度、高导电性的金属材料，如不锈钢或金镀层，以确保良好的导电性和耐腐蚀性。
应用场景：
1. 电路板测试：在生产线上对电路板进行功能测试，确保每个组件正常工作。
2. 半导体测试：用于晶圆测试和封装后的芯片测试。
3. 维修和调试：在电子设备维修中，针头探针用于检查和诊断故障点。
4. 自动化测试设备（ATE）：在自动化测试系统中，针头探针是不可或缺的组件。
5. 科研实验：在实验室环境中，探针用于各种电子测量和研究。
包含种类：
1. 单针探针：单一的针尖设计，适用于单点接触。
2. 多针探针：多个针尖集成在一个探针头上，用于多点测试。
3. 弹簧探针：带有弹簧机制，提供可调节的接触力。
4. 针床探针：在测试平台上固定排列的探针，用于批量测试。
5. 滑动探针：可以沿着特定路径移动的探针，用于扫描测试。
针头探针因其灵活性、精确性和可靠性，在电子测试领域中扮演着重要角色。