Contact Probes

Contact Probes，也称为探针或测试探针，是电子测试和测量领域中常用的一种工具。它们主要用于在电路板、半导体器件、封装或其他电子组件上建立临时的电气连接，以便进行功能测试、故障诊断或参数测量。以下是Contact Probes的一些主要功能特点、应用场景和包含的种类：
功能特点：
1. 高导电性：探针通常由高质量的金属材料制成，如不锈钢或黄铜，表面镀金或镀镍，以确保良好的导电性和耐腐蚀性。
2. 灵活性：设计多样，可以适应各种形状和大小的接触点，包括尖头、球形、圆锥形等，以满足不同测试需求。
3. 耐用性：探针需要承受反复的插拔和接触，因此通常具有较高的机械强度和使用寿命。
4. 精密定位：一些探针设计有精密的定位系统，以确保准确无误地与目标接触点对齐。
5. 多种接触力：根据应用需求，探针可以提供不同的接触力，以确保在不损坏被测设备的情况下形成稳定可靠的连接。
应用场景：
1. 半导体测试：在晶圆测试和IC封装阶段，用于测试芯片的电气性能。
2. 电路板测试：在PCB组装完成后，用于检测焊点质量和电路功能。
3. 自动光学检测（AOI）：配合自动化设备，检查电路板上的元件和连接。
4. 故障诊断：在维修和调试过程中，确定电路故障的位置。
5. 研发实验：在实验室环境中，用于原型验证和新设计的测试。
包含种类：
1. 单针探针：最基础的形式，通常用于简单的点对点测试。
2. 多针探针：用于同时测试多个接触点，常见于矩阵式探针卡。
3. 弹簧探针：内置弹簧结构，提供可调节的接触力，适用于各种应用。
4. 柔性探针：具有弯曲或挠性的特性，适应不规则表面的测试。
5. 高温探针：设计用于高温环境下的测试。
6. 微间距探针：用于微电子和纳米技术中的微小接触点。
7. 定制探针：根据特定应用需求进行定制设计。
Contact Probes的选择取决于具体的应用条件，包括所需的电气性能、机械耐久性、空间限制以及测试的频率和精度要求。